Hľadaj Zobraz: Univerzity Kategórie Rozšírené vyhľadávanie

45 077   projektov
0 nových

Meranie parametrov na cievkach a kondenzátoroch II. (protokol 6)

«»
Prípona
.docx
Typ
meranie
Stiahnuté
1 x
Veľkosť
0,2 MB
Jazyk
slovenský
ID projektu
44647
Posledná úprava
05.03.2014
Zobrazené
1 293 x
Autor:
unizak
Facebook icon Zdieľaj na Facebooku
Detaily projektu
Popis:
Práca vypracovaná podľa požiadaviek cvičiaceho predemtu Meranie a meracie systémy na tému Meranie parametrov na cievkach a kondenzátoroch II. (protokol 6).
Odovzdanie tejto práce je pre denného študenta povinné.


Úlohy merania:


1. Zmerajte pasívne parametre danej cievky rezonančnou metódou na princípe Q- metra. Graficky zostrojte závislosť činiteľa akosti Q a odporu cievky R1 od veľkosti nastavovanej frekvencii.
2. Pomocou číslicového Q- metra (RLC merača) skontrolujte výsledky zmeraných parametrov pri frekvencii 100 a 1 kHz

Kľúčové slová:

parametre na cievkach a kondenzátoroch

cievka

kondenzátor

Meranie a meracie systémy



Obsah:
  • 6-1 Meranie parametrov cievky rezonančnou sériovou metódou
    6-2 Meranie parametrov kondenzátora rezonančnou sériovou metódou
    6-3 Meranie impedancie mostíkovými metódami

Zdroje:
  • labák
  • cvičenie
O súboroch cookie na tejto stránke

Súbory cookie používame na funkčné účely, na zhromažďovanie a analýzu informácií o výkone a používaní stránky.

Nastavenia Povoliť všetko