Hľadaj Zobraz: Univerzity Kategórie Rozšírené vyhľadávanie

45 057   projektov
0 nových

Meranie vnútorného a povrchového odporu tuhých izolantov

«»
Prípona
.doc
Typ
meranie
Stiahnuté
0 x
Veľkosť
0,1 MB
Jazyk
slovenský
ID projektu
5051
Posledná úprava
10.08.2017
Zobrazené
1 647 x
Autor:
speedy
Facebook icon Zdieľaj na Facebooku
Detaily projektu
Popis:
Meranie vnútorného a povrchového odporu tuhých izolantov
Úloha: Odmerajte voltampérovou metódou objemový a povrchový odpor izolačného materiálu a vypočítajte ich merné hodnoty.

Meranie voltampérovej charakteristiky polovodičových prvkov
Úloha: Odmerajte VA charakteristiku polovodičovej diódy pri troch rôznych teplotách do 60 C, graficky znázornite a odôvodnite.

Meranie hradlového fotoelektrického javu a integrálnej citlivosti fotorezistorov
Úloha: Odmerajte a graficky znázornite závislosť prúdu tečúceho fotočlánkom na intenzite osvetlenia. Rovnako pre fotorezistor pri rôznych hodnotách napájacieho napätia, vypočítajte a znázornite závislosť integrálnej citlivosti fotorezistora na osvetlení.

Meranie relatívnej permitivity lineárnych a nelineárnych dielektrík
Úloha: Odmerajte teplotnú závislosť kapacity kondenzátora s lineárnym kvapalným a nelineárnym tuhým dielektrikom, vypočítajte a znázornite teplotnú závislosť relatívnej permitivity ich dielektrík, určte Curieho teplotu feroelektrika a odôvodnite výsledky merania.

Kľúčové slová:

meranie

tuhé izolanty

voltampérová charakteristika

integrálna citlivosť

fotorezistory

permitivita



Obsah:
  • Meranie vnútorného a povrchového odporu tuhých izolantov
    Meranie voltampérovej charakteristiky polovodičových prvkov
    Meranie hradlového fotoelektrického javu a integrálnej citlivosti fotorezistorov
    Meranie relatívnej permitivity lineárnych a nelineárnych dielektrík
O súboroch cookie na tejto stránke

Súbory cookie používame na funkčné účely, na zhromažďovanie a analýzu informácií o výkone a používaní stránky.

Nastavenia Povoliť všetko