Röntgenová prášková difrakčná analýza
Popis:
Röntgenová (rtg) prášková difrakcia je najrozšírenejšia metóda používaná na identifikáciu a charakterizáciu ílových minerálov. Na základe viacerých monografií venovaných tejto problematike (Brindley a Brown, 1980; Wilson, 1987; Moore a Reynolds, 1997) môžeme všeobecné informácie o rtg difrakcii ílov zhrnúť nasledovne. Rtg žiarenie (lúče X) predstavuje časť elektromagnetického spektra. Vzniká pri prudkom zabrzdení rýchleho toku elektrónov na hmotnej prekážke. Najbežnejším zdrojom rtg žiarenia sú rtg trubice (lampy), ktoré predstavujú sklenené banky so zatavenými elektródami, medzi ktorými je vysoké napätie. Z katódy sú emitované elektróny, ktoré urýchľované vysokým napätím (15 až 60 kV) dopadajú na antikatódu (anódu) a produkujú dva základné typy rtg žiarenia...
Kľúčové slová:
rtg
röntgen
difrakčná
analýza
difrakčná analýza
žiarenie
lúče X
X
energia
atóm
difrakcia
ohyb
goniometer
preparát
úprava
úprava preparátov
silikát
kaolinit
Obsah:
- Obsah 2
Röntgenová prášková difrakčná analýza 3
Príprava preparátov pre RTG práškovú difrakciu 4
Úprava preparátov 5
Vyhodnotenie RTG difrakčného záznamu vrstevnatých silikátov a identifikácia minerálov 6
Meranie hrúbok kryštalitov vrstevnatých silikátov 7
O súboroch cookie na tejto stránke
Súbory cookie používame na funkčné účely, na zhromažďovanie a analýzu informácií o výkone a používaní stránky.